高精度回路電阻測(cè)試儀的校準(zhǔn)方法：

高精度回路電阻測(cè)試儀的校準(zhǔn)需遵循 JJG 1058-2010《回路電阻測(cè)試儀檢定規(guī)程》，目的是驗(yàn)證儀器的電流輸出精度和電阻測(cè)量誤差，確保測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠。校準(zhǔn)可分為實(shí)驗(yàn)室委托校準(zhǔn)和現(xiàn)場(chǎng)自校準(zhǔn)兩類(lèi)，以下是詳細(xì)操作方法和要求：

一、校準(zhǔn)前準(zhǔn)備

1. 環(huán)境條件（滿足計(jì)量要求）

溫度    (20±5)℃，校準(zhǔn)過(guò)程中溫度波動(dòng)≤2℃    

相對(duì)濕度    ≤80%RH    

電磁環(huán)境    無(wú)強(qiáng)電磁干擾，遠(yuǎn)離變壓器、母線排等大電流設(shè)備    

供電電源    AC220V±2%，50Hz±0.5Hz（避免電壓波動(dòng)影響電流輸出）    

2. 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備（精度等級(jí)需高于被校儀器 3 倍以上）

標(biāo)準(zhǔn)電阻器：準(zhǔn)確度等級(jí)≤0.01 級(jí)，阻值覆蓋被校儀器量程（如 10μΩ、100μΩ、1000μΩ、10mΩ 等），支持四線制接線。

直流數(shù)字電壓表：準(zhǔn)確度等級(jí)≤0.01 級(jí)，分辨率≥1μV，用于監(jiān)測(cè)標(biāo)準(zhǔn)電阻兩端壓降。

直流數(shù)字電流表：準(zhǔn)確度等級(jí)≤0.01 級(jí)，分辨率≥1mA，用于監(jiān)測(cè)儀器輸出電流。

四線制測(cè)試線：專(zhuān)用低阻測(cè)試線，線阻≤0.1mΩ，避免線阻干擾校準(zhǔn)結(jié)果。

3. 被校儀器準(zhǔn)備

外觀檢查：外殼無(wú)破損，接線端子完好，顯示屏清晰。

通電預(yù)熱：接通電源，預(yù)熱 30 分鐘，使儀器內(nèi)部電路達(dá)到穩(wěn)定工作狀態(tài)。

功能自檢：?jiǎn)?dòng)儀器，進(jìn)行空載自檢，確認(rèn)無(wú)報(bào)錯(cuò)代碼，電流輸出正常。

二、高精度回路電阻測(cè)試儀核心校準(zhǔn)項(xiàng)目與操作步驟：

1. 電流輸出誤差校準(zhǔn)

該項(xiàng)目驗(yàn)證儀器設(shè)定電流與實(shí)際輸出電流的偏差，是電阻測(cè)量精準(zhǔn)的基礎(chǔ)。

接線：采用串聯(lián)方式，將被校儀器的電流端（I+、I-）與直流數(shù)字電流表、標(biāo)準(zhǔn)電阻器串聯(lián)，儀器電壓端（V+、V-）短接（或懸空，不參與此項(xiàng)目）。

參數(shù)設(shè)置：被校儀器依次設(shè)置常用測(cè)試電流檔（如 100A、200A），測(cè)試時(shí)間設(shè)為 10s。

數(shù)據(jù)記錄：?jiǎn)?dòng)測(cè)試，待電流穩(wěn)定后，讀取直流數(shù)字電流表的示值 I0，記錄被校儀器的設(shè)定值 Is。

誤差計(jì)算：

電流輸出誤差=I0Is?I0×100%

要求：誤差≤儀器說(shuō)明書(shū)規(guī)定值（常規(guī)≤±1%）。

2. 電阻測(cè)量基本誤差校準(zhǔn)

該項(xiàng)目是校準(zhǔn)核心，采用標(biāo)準(zhǔn)電阻器作為被測(cè)件，利用四線制接線消除測(cè)試線電阻影響。

四線制接線（關(guān)鍵步驟）

被校儀器 I+ → 標(biāo)準(zhǔn)電阻器 電流端 +；被校儀器 I- → 標(biāo)準(zhǔn)電阻器 電流端 -；

被校儀器 V+ → 標(biāo)準(zhǔn)電阻器 電壓端 +；被校儀器 V- → 標(biāo)準(zhǔn)電阻器 電壓端 -；

確保電壓線夾緊貼標(biāo)準(zhǔn)電阻電壓端，且在電流線夾內(nèi)側(cè)，避免線阻干擾。

校準(zhǔn)結(jié)果處理

合格判定：所有校準(zhǔn)項(xiàng)目誤差均符合儀器說(shuō)明書(shū)或檢定規(guī)程要求，判定為合格；若任一項(xiàng)目超差，需返廠維修或重新校準(zhǔn)。

校準(zhǔn)證書(shū)：

委托第三方計(jì)量機(jī)構(gòu)校準(zhǔn)：獲得帶CNAS 認(rèn)可的校準(zhǔn)證書(shū)，證書(shū)需包含校準(zhǔn)項(xiàng)目、數(shù)據(jù)、誤差、校準(zhǔn)日期和有效期（通常為 1 年）。

現(xiàn)場(chǎng)自校準(zhǔn)：編制內(nèi)部校準(zhǔn)報(bào)告，記錄校準(zhǔn)人員、環(huán)境、設(shè)備、數(shù)據(jù)，作為儀器使用依據(jù)。

校準(zhǔn)標(biāo)識(shí)：合格儀器粘貼校準(zhǔn)合格標(biāo)識(shí)，注明校準(zhǔn)日期和有效期；不合格儀器暫停使用，貼停用標(biāo)識(shí)。